发明名称 带电粒子束成像方法与其系统
摘要 在至少一第一扫描线下,使用第一带电粒子束探针以扫描样本;在至少一第二扫描线下,使用第二带电粒子束探针以扫描样本,及在至少一第三扫描线下,使用第一带电粒子束探针以扫描样本。成像系统之控制模组,藉由调整成像系统之聚焦透镜模组、物镜模组、成像系统之样本台或其组合,使第一或是第二带电粒子束探针失焦。样本的影像可选择由第一、第二及第三扫描线的扫描所形成。第一及第二带电粒子束在样本表面分别感应出第一及第二带电状态。第二带电状态可强化、缓和、抵销第一带电状态,反转带电状态的电荷极性的作用或者对第一带电状态不产生作用。
申请公布号 TWI395945 申请公布日期 2013.05.11
申请号 TW098145541 申请日期 2009.12.29
申请人 汉民微测科技股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区研新一路18号4楼 发明人 赵炎;招允家
分类号 G01N23/225 主分类号 G01N23/225
代理机构 代理人 蔡朝安 新竹市科学工业园区力行一路1号E之1;郑淑芬 新竹市科学园区力行一路1号E之1
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区研新一路18号4楼