发明名称 |
带电粒子束成像方法与其系统 |
摘要 |
在至少一第一扫描线下,使用第一带电粒子束探针以扫描样本;在至少一第二扫描线下,使用第二带电粒子束探针以扫描样本,及在至少一第三扫描线下,使用第一带电粒子束探针以扫描样本。成像系统之控制模组,藉由调整成像系统之聚焦透镜模组、物镜模组、成像系统之样本台或其组合,使第一或是第二带电粒子束探针失焦。样本的影像可选择由第一、第二及第三扫描线的扫描所形成。第一及第二带电粒子束在样本表面分别感应出第一及第二带电状态。第二带电状态可强化、缓和、抵销第一带电状态,反转带电状态的电荷极性的作用或者对第一带电状态不产生作用。 |
申请公布号 |
TWI395945 |
申请公布日期 |
2013.05.11 |
申请号 |
TW098145541 |
申请日期 |
2009.12.29 |
申请人 |
汉民微测科技股份有限公司 新竹市新竹科学工业园区研新一路18号4楼 |
发明人 |
赵炎;招允家 |
分类号 |
G01N23/225 |
主分类号 |
G01N23/225 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡朝安 新竹市科学工业园区力行一路1号E之1;郑淑芬 新竹市科学园区力行一路1号E之1 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区研新一路18号4楼 |