| 发明名称 | 一种三相电相序和缺相检测电路 | ||
| 摘要 | 本实用新型公开一种三相电相序和缺相检测电路，该检测电路包括有三组二极管、三组电阻、三组光耦及一微处理器；所述的三组电阻分别与三组光耦串联，三组二极管分别与三组光耦的发光二极管端反向并联，三组光耦的输出端连接到微处理器。本实用新型检测电路是通过微处理器对光耦的输出波形分析，完成三相电相序和缺相的检测。电路结构简单，制造方便。 | ||
| 申请公布号 | CN202929127U | 申请公布日期 | 2013.05.08 |
| 申请号 | CN201220640500.8 | 申请日期 | 2012.11.27 |
| 申请人 | 漳州市麒麟电子有限公司 | 发明人 | 刘王雍杰;陈新辉;陈锦山 |
| 分类号 | G01R29/18(2006.01)I;G01R29/16(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/18(2006.01)I |
| 代理机构 | 厦门龙格专利事务所(普通合伙) 35207 | 代理人 | 钟毅虹 |
| 主权项 | 一种三相电相序和缺相检测电路，其特征在于：该检测电路包括有三组二极管(2)、三组电阻(1)、三组光耦(3)及一微处理器(4)；所述的三组电阻(1)分别与三组光耦(3)串联，三组二极管（2）分别与三组光耦（3）的发光二极管端反向并联，三组光耦（3）的输出端连接到微处理器（4）。 | ||
| 地址 | 362000 福建省漳州市长泰县武安镇官山工业区 | ||