发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 将孔洞形成在绝缘层中。在等于或大于330℃且等于或小于400℃之温度下加热半导体基板。将含钨气体及至少乙硼烷(B2H6)气体及矽甲烷(SiH4)气体其中之一导入反应室内,藉此形成第一钨层。随后,将氢气(H2)气体及惰性气体至少其中之一导入反应室内,将半导体基板之温度以30秒以上之时间升高至等于或大于370℃且等于或小于410℃,然后将含钨气体导入反应室内,藉此在第一钨层上形成第二钨层。
申请公布号 TWI393215 申请公布日期 2013.04.11
申请号 TW098100644 申请日期 2009.01.09
申请人 瑞萨电子股份有限公司 日本 发明人 刈谷淳
分类号 H01L21/768;H01L21/3205 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人 周良谋 新竹市东大路1段118号10楼;周良吉 新竹市东大路1段118号10楼
主权项
地址 日本