插座及电子元件测试装置

摘要

本发明提供一种可抑制接触不良发生的插座，该插座11电连接于具有形成与晶片50的电极触头51相接触的突起324的基膜32、与突起324电连接的外部端子312的测试用载体，包含与外部端子312接触的接触器125和推压基膜32的突起形成部分32a以及突起周围部分32b的弹性部件131；弹性部件131具有第1弹性层132、比第1弹性层132柔软的层叠于第1弹性层132上的与基膜32接触的第2弹性层133。

主权项

一种插座，电连接于具有形成与电子元件的电极接触的内部端子的膜状第1部件和与所述内部端子电连接的外部端子的测试用载体，其特征在于，所述插座包括与所述外部端子接触的接触子和第1推压构件，所述第1推压构件推压所述第1部件上的形成所述内部端子的部分和所述第1部件上的所述内部端子的周围部分；  所述第1推压构件，具有第1弹性部件和比所述第1弹性部件柔软的层压于所述第1弹性部件的与所述第1部件接触的第2弹性部件。