发明名称 一种用于硅纳米线生物检测芯片的结构及其制造方法
摘要 本发明揭示了一种硅纳米线生物检测芯片的结构及制造方法,该结构包括半导体衬底、生长在半导体衬底上的二氧化硅隔离层、生长在二氧化硅隔离层上的多晶硅层和生长在多晶硅层上的结构层;其中,多晶硅层中包括图形化形成的硅纳米线阵列;结构层的结构为从下至上依次包括SiON层、TaN层和/或Ta2O5层,且TaN层和/或Ta2O5层仅覆盖于硅纳米线阵列中各硅纳米线的表面。因此,本发明不仅解决了硅纳米线阵列(SiNW)在保存应用中存在的容易受污染的问题,且能使生物芯片经受Na、K、Fe、Cu和Ca等离子的扩散污染的考验,以及PH值等多种化学因素的影响,即实现了检测的高稳定性。
申请公布号 CN103018429A 申请公布日期 2013.04.03
申请号 CN201210431190.3 申请日期 2012.11.01
申请人 上海集成电路研发中心有限公司;华东师范大学 发明人 朱建军;赵宇楠;叶红波;戚继鸣
分类号 G01N33/48(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I 主分类号 G01N33/48(2006.01)I
代理机构 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人 吴世华;林彦之
主权项 一种硅纳米线生物检测芯片的结构,包括: 半导体衬底; 二氧化硅隔离层,生长在所述半导体衬底上;多晶硅层,生长在所述二氧化硅隔离层上,所述多晶硅层中包括图形化形成的硅纳米线阵列;其特征在于:还包括:结构层,生长在所述多晶硅层上;所述结构层结构从下至上依次包括SiON层、TaN和/或Ta2O5层,其中,所述TaN和/或Ta2O5层仅覆盖于所述硅纳米线阵列中各硅纳米线的表面。
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