发明名称 光接收装置、测试装置、光接收方法、测试方法、测试模组及半导体晶片
摘要 本发明提供一种光接收装置,为一种接收光信号,并输出由前述光信号所传送的数位式资料的资料值之光接收装置,包括:受光元件,接收光信号并输出与光信号的强度相对应的光电流;现周期积分器,将与数位式资料的现周期相对应的光电流,在周期内的设定期间进行积分;前周期积分器,将现周期的与前周期相对应的光电流,在该周期中的与设定期间大致相等的期间进行积分;以及资料值识别电路,根据现周期积分器所积分的电荷量和前周期积分器所积分的电荷量之差值,以输出数位式资料的现周期中的资料值。
申请公布号 TWI392250 申请公布日期 2013.04.01
申请号 TW095127234 申请日期 2006.07.26
申请人 爱德万测试股份有限公司 日本 发明人 冈安俊幸;渡边大辅
分类号 H04B10/06 主分类号 H04B10/06
代理机构 代理人 詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;萧锡清 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1
主权项
地址 日本