发明名称 | 基于标准尺的大尺寸高精度测量装置 | ||
摘要 | 本实用新型涉及基于标准尺的大尺寸高精度测量装置,采用两种膨胀系数相差较大的材料制成标准尺,这两标准尺一端固定,另一端可自由膨胀,在标准温度下对它们进行尺寸标定。把两个标准尺安装在测量装置中,由于它们的膨胀系数不同,温度变化时,测量装置中读数头可测量两标准尺膨胀后的尺寸差。根据标准尺的尺寸差值,对测量尺寸进行修正,从而提高了尺寸的测量精度。基于标准尺的大尺寸高精度测量装置,能够在加工现场实现测量,无需测量现场温度,便可对温度变化所引起的尺寸变化进行修正。该检测装置重量轻、装调方便。并且,检测装置的测量范围大,测量精度高。 | ||
申请公布号 | CN202836431U | 申请公布日期 | 2013.03.27 |
申请号 | CN201120450557.7 | 申请日期 | 2011.11.15 |
申请人 | 中机生产力促进中心 | 发明人 | 刘红旗;张敬彩;李秀明 |
分类号 | G01B5/02(2006.01)I | 主分类号 | G01B5/02(2006.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 基于标准尺的大尺寸高精度测量装置,采用两种热膨胀系数相差较大的材料制成两标准尺,两标准尺套装在一起,其中两标准尺的一端固定,另一端可自由膨胀,在标准温度下对两标准尺的长度进行标定,固定测头和固定量杆连接,与两标准尺的固定端可靠接触,测量头与大膨胀系数标准尺膨胀端固定连接,活动测头与测量尺固定连接,其特征是温度变化时测量头可测得两标准尺的尺寸差,依此对测量尺寸进行精确的修正,基于标准尺的标定长度和测量头的小尺寸精密测量,实现大尺寸的高精度测量。 | ||
地址 | 100044 北京市海淀区首体南路2号 |