发明名称 电子元件处理装置及电子元件位置检出方法
摘要 在电子元件处理装置中,摄影搬送装置所支持且端缘部具有端子之受测电子元件之端子,从所摄影出之影像资料抽样出排列于X轴方向之端子之外缘,对该资料进行二进位处理,并且,从所摄影出之影像抽样出排列于Y轴方向之端子之外缘,对该资料进行二进位处理,从所得到之2张二进位影像确定各端子之外缘之位置。然后,将其与作为基准之电子元件之端子之外缘之基准位置资讯作比较,算出受测电子元件之位置偏移量,根据此位置偏移量,校正受测电子元件之姿势。
申请公布号 TWI381178 申请公布日期 2013.01.01
申请号 TW097150593 申请日期 2008.12.25
申请人 阿德潘铁斯特股份有限公司 日本 发明人 菊池有朋;小池辰见
分类号 G01R31/01;G01R1/02;B65G49/07 主分类号 G01R31/01
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项
地址 日本