发明名称 |
PIP、PPS电容器的制作方法 |
摘要 |
本发明涉及一种PIP电容器的制作方法,包括:在衬底中形成浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构上沉积第一多晶硅;刻蚀所述第一多晶硅以暴露出所述浅沟槽隔离结构的边缘;在所述第一多晶硅和所述浅沟槽隔离结构上依次沉积第一介质层、第二多晶硅和第二介质层;依次刻蚀所述第二介质层、第二多晶硅和第一介质层,形成暴露出所述第一多晶硅顶部的第一接触孔,并刻蚀所述第二介质层,形成暴露出所述第二多晶硅顶部的第二接触孔;在所述上述结构表面沉积金属,形成互连线。本发明在PIP电容器制作中形成一个与PIP电容并联的电容,从而提高单位面积电容。 |
申请公布号 |
CN102751176A |
申请公布日期 |
2012.10.24 |
申请号 |
CN201210230745.8 |
申请日期 |
2012.07.04 |
申请人 |
上海宏力半导体制造有限公司 |
发明人 |
胡勇;李冰寒;江红;于涛 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人 |
郑玮 |
主权项 |
一种PIP电容器的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底中形成浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构上沉积第一多晶硅,刻蚀所述第一多晶硅以暴露出所述浅沟槽隔离结构的边缘;在所述第一多晶硅和所述浅沟槽隔离结构上依次沉积第一介质层、第二多晶硅和第二介质层;依次刻蚀所述第二介质层、第二多晶硅和第一介质层,形成暴露出所述第一多晶硅顶部的第一接触孔,并刻蚀所述第二介质层,形成暴露出所述第二多晶硅顶部的第二接触孔;在所述第一接触孔内、第二接触孔内和第二介质层表面沉积金属,形成互连线。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号 |