发明名称 PIP、PPS电容器的制作方法
摘要 本发明涉及一种PIP电容器的制作方法,包括:在衬底中形成浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构上沉积第一多晶硅;刻蚀所述第一多晶硅以暴露出所述浅沟槽隔离结构的边缘;在所述第一多晶硅和所述浅沟槽隔离结构上依次沉积第一介质层、第二多晶硅和第二介质层;依次刻蚀所述第二介质层、第二多晶硅和第一介质层,形成暴露出所述第一多晶硅顶部的第一接触孔,并刻蚀所述第二介质层,形成暴露出所述第二多晶硅顶部的第二接触孔;在所述上述结构表面沉积金属,形成互连线。本发明在PIP电容器制作中形成一个与PIP电容并联的电容,从而提高单位面积电容。
申请公布号 CN102751176A 申请公布日期 2012.10.24
申请号 CN201210230745.8 申请日期 2012.07.04
申请人 上海宏力半导体制造有限公司 发明人 胡勇;李冰寒;江红;于涛
分类号 H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L21/02(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种PIP电容器的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:在衬底中形成浅沟槽隔离结构;在所述浅沟槽隔离结构上沉积第一多晶硅,刻蚀所述第一多晶硅以暴露出所述浅沟槽隔离结构的边缘;在所述第一多晶硅和所述浅沟槽隔离结构上依次沉积第一介质层、第二多晶硅和第二介质层;依次刻蚀所述第二介质层、第二多晶硅和第一介质层,形成暴露出所述第一多晶硅顶部的第一接触孔,并刻蚀所述第二介质层,形成暴露出所述第二多晶硅顶部的第二接触孔;在所述第一接触孔内、第二接触孔内和第二介质层表面沉积金属,形成互连线。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
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