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Die Erfindung betrifft Weitfeld-Mikroskop-Beleuchtungssystem und ein Beleuchtungsverfahren. Beleuchtungslicht wird an innerhalb einer vorbestimmten Beleuchtungslicht-Eintrittsfläche liegenden Beleuchtungslicht-Eintrittsstellen in das Mikroskopobjektiv gesendet. Diese Beleuchtungslicht-Eintrittsstellen werden von einer gesteuerten, automatischen Beleuchtungslichtstrahlengang-Manipulationseinrichtung automatisch in zeitlichen Abständen zu einer Mehrzahl von Beleuchtungslicht-Eintrittsstellen geändert, um das Objektiv vor Schädigung durch Strahlenüberlastung zu bewahren.
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