发明名称 存储元件的温度估计
摘要 本发明涉及一种确定多个存储元件(10)的温度(T)的方法,存储元件(10)具有取特定比特值的温度依赖概率(P),该方法包括:触发(110)多个存储元件(10)取特定比特值;读出(120)多个存储元件(10)的内容以获得读取数据(D);以及处(13)读取数据,以确定表示温度(T)的值(Vact)。本发明还涉及一种程序产品,包括用于使处理器该方法的指令。这种计算机程序有利地用在智能卡中,而智能卡无需任何结构改变。本发明还涉及一种用于确定多个存储元件(10)的温度(T)的系统。这种系统有利地在集成电路中实现,其中多个存储元件(10)形成集成存储器的一部分。本发明提出无需分立的温度传感器就能确定温度(T)。唯一的实际要求是存在具有取特定比特值的温度依赖概率(P)的多个存储元件(10)。
申请公布号 CN101896801B 申请公布日期 2012.09.26
申请号 CN200880120640.9 申请日期 2008.10.27
申请人 NXP股份有限公司 发明人 森德·马菲积斯·范里斯沃
分类号 G01K7/42(2006.01)I 主分类号 G01K7/42(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 倪斌
主权项 一种确定多个存储元件(10)的温度(T)的方法,所述存储元件(10)具有取特定比特值的温度依赖概率(P),所述方法包括:触发(110)所述多个存储元件(10)取比特值,所述比特值是所述特定比特值或相对的比特值;读出(120)所述多个存储元件(10)的内容以获得读取数据(D);以及处理(130)所述读取数据,以确定表示温度(T)的值(Vact)。
地址 荷兰艾恩德霍芬