发明名称 |
探针测试装置 |
摘要 |
本发明一种探针测试装置,主要于一电路板与一空间转换板之间设置一垫高板,再设置多个探针于空间转换板,使得电路板的表面与这些探针的针尖之间所具有的固定高度可透过垫高板加以克服,而不需要再另外制作高厚度的空间转换板,可有效降低本发明于制造上的困难度与成本。 |
申请公布号 |
CN101644724B |
申请公布日期 |
2012.08.08 |
申请号 |
CN200810145174.1 |
申请日期 |
2008.08.04 |
申请人 |
旺矽科技股份有限公司 |
发明人 |
孙宏川;简志忠;杨惠彬;吴坚州;黄朝敬;施伯宗 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;G01R1/073(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
周国城 |
主权项 |
一种探针测试装置,其特征在于包含有:一电路板;一空间转换板;一垫高板,位于该电路板与该空间转换板之间,并分别与该电路板及该空间转换板经过回焊而电性连接;该垫高板内部具有多个垂直贯通的贯孔,供多条与电路板电性连接的电路穿设,该垫高板为多层陶瓷结构或多层有机结构;以及一垂直式探针组,具有一固定于该空间转换板的上导板、一下导板、一连接该上导板与该下导板之间隔板,以及多个垂直式探针,其中这些垂直式探针穿设于该上、下导板而与该空间转换板电性连接。 |
地址 |
中国台湾新竹县 |