发明名称 |
带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法 |
摘要 |
本发明公开一种带芯片测试功能的烧录机及其烧录方法,该烧录机包括主控模块、通讯模块、人机接口模块和给以上各模块提供电源的电源模块,主控模块负责对通讯模块进行控制收发、保存通讯数据,并负责对人机交互模块的交互,还包括一芯片插座,其通过烧录的管脚与主控模块相连,待烧芯片插入该芯片插座后受主控模块的控制,在芯片插座端还引出有用于测试的管脚,该测试的管脚也与主控模块相连;主控模块中包含一芯片IO测试程序,该芯片IO测试程序监测待烧芯片IO口是否能在测试模式下正常置高、置低。本发明可排除芯片插错、插反等错误情况发生,保证待烧芯片和烧录机内部元器件免遭烧毁。 |
申请公布号 |
CN102568580A |
申请公布日期 |
2012.07.11 |
申请号 |
CN201010587840.4 |
申请日期 |
2010.12.14 |
申请人 |
无锡华润矽科微电子有限公司 |
发明人 |
潘杰;王会刚 |
分类号 |
G11C16/10(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G11C16/10(2006.01)I |
代理机构 |
上海智信专利代理有限公司 31002 |
代理人 |
王洁 |
主权项 |
一种带芯片测试功能的烧录机,包括主控模块、通讯模块、人机接口模块和给以上各模块提供电源的电源模块,所述主控模块负责对所述通讯模块进行控制收发、保存通讯数据,并负责对所述人机交互模块的交互,还包括一芯片插座,其通过烧录的管脚与所述主控模块相连,待烧芯片插入该芯片插座后受所述主控模块的控制,其特征在于:在所述芯片插座端还引出有用于测试的管脚,该测试的管脚也与所述主控模块相连;所述主控模块中包含一芯片IO测试程序,该芯片IO测试程序监测所述待烧芯片IO口是否能在测试模式下正常置高、置低。 |
地址 |
214061 江苏省无锡市梁溪路14号 |