发明名称 半导体装置之制造方法
摘要 一种半导体装置之制造方法,其系于一半导体基板形成一井区,然后形成一闸极氧化层于此半导体基板上和/或于此半导体基板之上方。接着,形成一闸极于此闸极氧化层之上和/或于此闸极氧化层之上方且于此闸极之下形成一容置空间(Pocket)。再对此半导体基板执行一第一瞬间退火(spike anneal)制程,之后再执行一离子布植制程于此半导体基板之源/汲极的深处。最后再对半导体基板执行一第二瞬间退火制程。
申请公布号 TWI366891 申请公布日期 2012.06.21
申请号 TW097123210 申请日期 2008.06.20
申请人 东部高科股份有限公司 南韩 发明人 吴容镐
分类号 H01L21/8238 主分类号 H01L21/8238
代理机构 代理人 许世正 台北市信义区忠孝东路5段410号4楼
主权项
地址 南韩