发明名称 一种内孔激光测量装置
摘要 本发明公开了一种内孔激光测量装置,包括激光器(1)、下梯形棱镜(3)、孔径光阑(4)、透镜(5)、上梯形棱镜(6)和CCD(7),其中,所述下梯形棱镜(3)位于上梯形棱镜(6)下方,两梯形棱镜关于该透镜(5)呈对称布置;所述孔径光阑(4)和透镜(5)设置在所述下梯形棱镜(3)和上梯形棱镜(6)之间,且所述孔径光阑(4)沿光路设置在所述透镜(5)前方;所述CCD(7)设置于上梯形棱镜(6)上方,用于接收从上梯形棱镜(6)出射的光信号。该装置大大减小测量所需的物理空间,测量速度快、精度高、安装调试方便,受外界干扰小,能有效补偿装配所带来的误差。
申请公布号 CN102062586B 申请公布日期 2012.06.13
申请号 CN201010552548.9 申请日期 2010.11.19
申请人 华中科技大学 发明人 赵斌;熊志勇
分类号 G01B11/22(2006.01)I;G01B11/12(2006.01)I 主分类号 G01B11/22(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 朱仁玲
主权项 一种内孔激光测量装置,包括激光器(1)、下梯形棱镜(3)、孔径光阑(4)、透镜(5)、上梯形棱镜(6)和CCD(7),其中,所述下梯形棱镜(3)位于上梯形棱镜(6)下方,两梯形棱镜关于该透镜(5)呈对称布置;所述孔径光阑(4)和透镜(5)设置在所述下梯形棱镜(3)和上梯形棱镜(6)之间,且所述孔径光阑(4)沿光路设置在所述透镜(5)前方;所述CCD(7)设置于上梯形棱镜(6)上方,用于接收从上梯形棱镜(6)出射的光信号;测量孔深时,激光器(1)发出的测量激光投射到待测孔(2)的内底面,产生一个圆形光斑,经内底面发生漫反射后进入下梯形棱镜(3),并使光线在该下梯形棱镜(3)内发生全反射,从下梯形棱镜(3)出射的光线依次经孔径光阑(4)和透镜(5)进行汇聚,再进入所述上梯形棱镜(6)进行全反射,出射光成像于CCD(7)的靶面上,上述成像图像经处理后得出采集到的光斑重心,再根据标定的零位即可求出光斑重心偏移量,再利用所述重心偏移量与被测孔深度变化的对应函数关系,即可得到孔深数据。
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