发明名称 | 距离测量仪器 | ||
摘要 | 本发明提供了一种距离测量仪器,包括用于发射距离测量光的发光单元(13),用于接收并且检测来自要测量的对象的反射的距离测量光以及作为内部参考光的从发光单元发射的距离测量光的一部分的光电检测单元(14),用于电学上调节光电检测单元的光电检测灵敏度的灵敏度调节单元(23),以及用于基于来自光电检测单元的反射的距离测量光的光电检测信号并且基于内部参考光的光电检测信号来计算测量的距离的控制算术单元(22),其中该控制算术单元可以通过选择棱镜模式测量和非棱镜模式测量来测量距离,并且进行控制,使得光电检测单元的光电检测灵敏度通过灵敏度调节单元响应于选择的测量模式而改变。 | ||
申请公布号 | CN102445182A | 申请公布日期 | 2012.05.09 |
申请号 | CN201110206341.0 | 申请日期 | 2011.07.22 |
申请人 | 株式会社拓普康 | 发明人 | 永井胜之 |
分类号 | G01C3/00(2006.01)I | 主分类号 | G01C3/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 刘春元;王忠忠 |
主权项 | 一种距离测量仪器,包括用于发射距离测量光的发光单元,用于接收并且检测来自要测量的对象的反射的距离测量光以及作为内部参考光的从所述发光单元发射的距离测量光的一部分的光电检测单元,用于电学上调节所述光电检测单元的光电检测灵敏度的灵敏度调节单元,以及用于基于来自所述光电检测单元的反射的距离测量光的光电检测信号并且基于内部参考光的光电检测信号来计算测量的距离的控制算术单元,其中所述控制算术单元能够通过选择棱镜模式测量和非棱镜模式测量来测量距离,并且进行控制,使得所述光电检测单元的光电检测灵敏度通过所述灵敏度调节单元响应于选择的测量模式而改变。 | ||
地址 | 日本东京都 |