发明名称 可用于单光子探测的平面型雪崩二极管探测器的制作方法
摘要 一种可用于单光子探测的平面型雪崩二极管探测器的制作方法,包括:在N型InP衬底上依次生长InP缓冲层、InGaAs吸收层、InGaAsP渐变层、N型InP电荷层和InP帽层;在InP帽层上生长SiO2保护层;在SiO2保护层的中间光刻出圆形窗口;通过湿法腐蚀,在圆形窗口中腐蚀InP帽层,形成圆坑;在圆形窗口周围的SiO2保护层上套刻出保护环的窗口;通过扩散工艺在保护环的窗口内;用HF溶液去除剩余的SiO2保护层;在InP帽层上重新生长SiO2层,并在圆坑的周围套刻出电极窗口;通过电子束蒸发、剥离工艺,在电极窗口上形成顶部环状电极;在环状电极上的周围及一侧制备金属电极;通过电子束蒸发,在N型InP衬底的背面形成背部电极;在圆坑内InP帽层的表面,制备SiNx增透膜,完成雪崩二极管探测器的制作。
申请公布号 CN102412343A 申请公布日期 2012.04.11
申请号 CN201110391274.4 申请日期 2011.11.30
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 杨怀伟;李彬;韩勤
分类号 H01L31/18(2006.01)I;H01L31/107(2006.01)I;H01L31/0352(2006.01)I;H01L31/0224(2006.01)I 主分类号 H01L31/18(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 汤保平
主权项 1.一种可用于单光子探测的平面型雪崩二极管探测器的制作方法,包括如下步骤:步骤1:在N型InP衬底上依次生长InP缓冲层、InGaAs吸收层、InGaAsP渐变层、N型InP电荷层和InP帽层;步骤2:在InP帽层上生长厚度为<img file="FDA0000114339630000011.GIF" wi="173" he="51" />的SiO<sub>2</sub>保护层;步骤3:在SiO<sub>2</sub>保护层的中间光刻出圆形窗口,刻蚀深度到InP帽层的表面;步骤4:通过湿法腐蚀,在圆形窗口中腐蚀InP帽层,形成圆坑;步骤5:在圆形窗口周围的SiO<sub>2</sub>保护层上套刻出保护环的窗口;步骤6:通过扩散工艺在保护环的窗口内,形成P型结构;步骤7:用HF溶液去除剩余的SiO2保护层;步骤8:在InP帽层上重新生长SiO<sub>2</sub>层,并在圆坑的周围套刻出电极窗口;步骤9:通过电子束蒸发、剥离工艺,在电极窗口上形成顶部环状电极;步骤10:在环状电极上的周围及一侧制备金属电极;步骤11:通过电子束蒸发,在N型InP衬底的背面形成背部电极;步骤12:在圆坑内InP帽层的表面,制备SiN<sub>x</sub>增透膜,完成雪崩二极管探测器的制作。
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