| 发明名称 | 基坑止水帷幕隐伏渗漏点检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种基坑止水帷幕隐伏渗漏点检测方法，其包括：在基坑外部，沿止水帷幕平行方向，距离止水帷幕定长距离处布设测点；在基坑内部降水前，探测测点处的土层电阻率；在基坑内部降水后，探测测点处的土层电阻率；若土层电阻率前后发生突变，则该测点处即为隐伏渗漏点的位置。本发明的检测方法，简单方便，可以准确的检测出渗漏点。 | ||
| 申请公布号 | CN102392461A | 申请公布日期 | 2012.03.28 |
| 申请号 | CN201110267962.X | 申请日期 | 2011.09.09 |
| 申请人 | 同济大学 | 发明人 | 柳献;黄钟晖;谢雄耀;杨新文;刘涛;袁勇 |
| 分类号 | E02D33/00(2006.01)I;E02D19/18(2006.01)I;G01M3/40(2006.01)I | 主分类号 | E02D33/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人 | 吴林松;周醒 |
| 主权项 | 一种基坑止水帷幕隐伏渗漏点检测方法，其特征在于：其包括：在基坑外部，沿止水帷幕平行方向，距离止水帷幕定长距离处布设测点；在基坑内部降水前，探测测点处的土层电阻率；在基坑内部降水后，探测测点处的土层电阻率；若土层电阻率前后发生突变，则该测点处即为隐伏渗漏点的位置。 | ||
| 地址 | 200092 上海市杨浦区四平路1239号 | ||