一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法

摘要

本发明提供了一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，该方法包括以下步骤：A、分析液晶面板显示异常的表现方式，寻找加电方式的依据；B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能，确定需要进行电性判断的引脚；C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图，确定在开盖前的电性测量位置，测量开盖前的电性；D、开盖后，使用探针直接探测芯片的引脚，进行加电测量，得出开盖后的电性特征；E、开盖前后的异常电性对比，判断失效点在封装级还是在晶圆级。本发明通过该种适合于液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，能够有效、合理地对开盖前后的电性特征进行比对，便于后续做出失效点是在封装级还是在晶圆级的判断。

主权项

一种液晶面板显示驱动芯片的电性分析方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：A、分析液晶面板显示异常的表现方式，寻找加电方式的依据；B、研究液晶面板显示驱动芯片的各引脚的功能，确定需要进行电性判断的引脚；C、根据芯片的引脚布局图和PCB板的引线布局图，确定在开盖前的电性测量位置，测量开盖前的电性；D、开盖后，使用探针直接探测芯片的引脚，进行加电测量，得出开盖后的电性特征；E、开盖前后的异常电性对比，判断失效点在封装级还是在晶圆级。