| 摘要 |
<p>Vynález se týká zpusobu merení tepelné vodivosti, pri kterém se zkoušený vzorek (1) podlouhlého deskovitého tvaru uvede v prostoru alespon cástecne tepelne izolovaném od okolního prostredí do tepelného kontaktu s aktivními plochami alespon dvou snímacu (3, 4) tepelného toku, jejichž teploty se volitelne udržují na dvou rozdílných hodnotách. Do tepelného kontaktu s aktivními plochami snímacu (3, 4) tepelného toku se uvede alespon jedna z dlouhých povrchových ploch zkoušeného vzorku (1), pricemž aktivní plochy snímacu (3, 4) tepelného toku udržované na rozdílných teplotách jsou v kontaktu s oblastmi sousedícími s opacnými konci zkoušeného vzorku (1) ve smeru jeho délky a tepelný tok se ve zkoušeném vzorku (1) vede jeho nejmenším prurezem. Vynález se také týká príslušného zarízení k merení tepelné vodivosti.</p> |
