发明名称 纳米压痕/刻划测试装置
摘要 本实用新型涉及一种纳米压痕/刻划测试装置,属于机电一体化精密科学仪器领域。其结构包括X、Y精密定位平台、Z轴宏动调整机构、精密压入驱动单元、载荷信号检测单元和位移信号检测单元,其中,所述的X、Y精密定位平台通过连接板Ⅰ2与粗调整机构Ⅲ15相连,该调整机构Ⅲ15固定在底座1上,载物台8通过力传感器9与X、Y精密定位平台连接;精密压入驱动单元通过Z轴宏动调整机构固定在侧板Ⅰ3上,该侧板Ⅰ3固定在底座1上;位移信号检测单元通过其侧板Ⅱ14固定在底座1上。技术效果是:结构紧凑、体积小。可以实现特征尺寸毫米级以上三维试件的力学性能测试(最大尺寸达到20mm×20mm×10mm);位移加载分辨率达到纳米级、加载力分辨率达到微牛级。
申请公布号 CN202057562U 申请公布日期 2011.11.30
申请号 CN201120115360.8 申请日期 2011.04.19
申请人 吉林大学 发明人 赵宏伟;黄虎;米杰;杨洁;万顺光;马志超;王小月;袁英堃
分类号 G01N3/46(2006.01)I;G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01N3/46(2006.01)I
代理机构 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 代理人 王怡敏
主权项 一种纳米压痕/刻划测试装置,其特征在于:包括X、Y精密定位平台、Z轴宏动调整机构、精密压入驱动单元、载荷信号检测单元和位移信号检测单元,其中,所述的X、Y精密定位平台通过连接板Ⅰ(2)与粗调整机构Ⅲ(15)相连,该调整机构Ⅲ(15)固定在底座(1)上,载物台(8)通过力传感器(9)与X、Y精密定位平台连接;精密压入驱动单元通过Z轴宏动调整机构固定在侧板Ⅰ(3)上,该侧板Ⅰ(3)固定在底座(1)上;位移信号检测单元通过其侧板Ⅱ(14)固定在底座(1)上。
地址 130025 吉林省长春市人民大街5988号