发明名称 Method for enhancing performance of device by using low temperature annealing treatment
摘要 <p>소자의 성능 향상 방법을 제공한다. 상기 소자의 성능 향상 방법은 기판 상에 제1형 반도체층을 형성하는 단계, 상기 제1형 반도체층 상에 제2형 반도체층을 형성하여 소자를 제조하는 단계 및 상기 소자를 적어도 -100℃ 이하의 온도를 가지는 초저온 냉각제에 침지시킨 후, 상온에서 방치시켜 저온 어닐링 처리를 수행하는 단계를 포함한다. 또한, 상기 소자의 성능 향상 방법은 패키지 기판 및 상기 패키지 기판 상에 배치된 단일 소자를 구비하는 패키지 소자를 제공하는 단계 및 상기 패키지 소자를 적어도 -100℃ 이하의 온도를 가지는 초저온 냉각제에 침지시킨 후, 상온에서 방치시켜 저온 어닐링 처리를 수행하는 단계를 포함한다.</p>
申请公布号 KR101076601(B1) 申请公布日期 2011.10.24
申请号 KR20090077011 申请日期 2009.08.20
申请人 发明人
分类号 H01L21/324 主分类号 H01L21/324
代理机构 代理人
主权项
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