电路测试装置

摘要

本发明揭露一种电路测试装置，用来测试一待测试元件。电路测试装置包括一微处理器、一量测模块以及一运算模块。微处理器用来提供一测试信号至该待测试元件，该待测试元件于接收该测试信号后，产生至少一量测信号，并根据至少一信号量测结果来决定该待测试元件的测试结果。量测模块耦接于该待测试元件，用以量测该至少一量测信号，以产生至少一电压量测结果以及至少一周期量测结果。运算模块耦接于量测模块，用以对该至少一电压量测结果以及该至少一周期量测结果进行一预定运算，以产生该至少一信号量测结果。本发明所述的电路测试装置，可以提升测试的速度并大幅的降低测试成本。

主权项

一种电路测试装置，其特征在于，用来测试一待测试元件，该电路测试装置包括：一微处理器，用来提供一测试信号至该待测试元件，该待测试元件于接收该测试信号后，产生至少一量测信号，并根据至少一信号量测结果来决定该待测试元件的测试结果；一量测模块，耦接于该待测试元件，用以量测该至少一量测信号，以产生至少一电压量测结果以及至少一周期量测结果；以及一运算模块，耦接于该量测模块，用以对该至少一电压量测结果以及该至少一周期量测结果进行一预定运算，以产生该至少一信号量测结果。