发明名称 嵌入式系统的测试系统及方法
摘要
申请公布号 TWI349191 申请公布日期 2011.09.21
申请号 TW096145605 申请日期 2007.11.30
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 童默颖;董华;洪学文;唐庆宗;赵红波
分类号 G06F11/28 主分类号 G06F11/28
代理机构 代理人
主权项 一种嵌入式系统的测试系统,该测试系统包括至少一台主机及至少一台装有嵌入式系统的待测试装置,该主机与该待测试装置是基于网路档案服务系统协定透过网路连接,该主机中安装有嵌入式系统运行需要的根档案系统及嵌入式系统的测试程式,该嵌入式系统启动时透过网路档案服务系统协定共用位于主机上的根档案系统及嵌入式系统的测试程式,运行测试程式进行测试。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统的测试系统,其中所述测试程式包括硬体驱动层,用于驱动嵌入式系统的底层硬体及对嵌入式系统进行测试所用到的辅助工具。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统的测试系统,其中所述测试程式包括共用库层,该共用库层是针对嵌入式系统的各个待测试部件进行测试的测试模组的集合。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统的测试系统,其中所述测试程式包括用户介面层,用于供用户输入测试命令运行测试程式对嵌入式系统进行相应测试。如申请专利范围第1项所述之嵌入式系统的测试系统,还包括一台与主机相连的控制伺服器,用于接收主机汇报的测试结果。一种嵌入式系统的测试方法,该方法包括以下步骤:基于网路档案服务系统协定将装有待测试嵌入式系统的待测试装置与装有嵌入式系统运行需要的根档案系统及测试程式的主机进行网路连接;启动嵌入式系统;嵌入式系统透过网路档案服务系统协定共用位于主机上的根档案系统及嵌入式系统的测试程式;在主机终端上透过网路登录待测试装置;及透过测试程式的用户介面层输入测试命令运行测试程式对嵌入式系统进行相应测试。如申请专利范围第6项所述之嵌入式系统的测试方法,还包括以下步骤:于主机终端上显示测试结果。如申请专利范围第6项所述之嵌入式系统的测试方法,还包括以下步骤:将测试结果汇报给一台与主机相连接的控制伺服器。
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