发明名称 相对曝光量测定装置及方法
摘要
申请公布号 TWI348312 申请公布日期 2011.09.01
申请号 TW096133527 申请日期 2007.09.07
申请人 利达电子股份有限公司 发明人 今村元一;常本英治
分类号 H04N17/00;H04N5/235 主分类号 H04N17/00
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种相对曝光量测定装置(30),系具备:输入具有特定的γ值的影像信号之手段(41);及使对应于上述影像信号的内容中所含的第1位置之亮度成份的上述特定的γ值回到1之手段(43),其特征为:上述手段(43)系使对应于上述影像信号的内容中所含的第1位置之亮度成份的上述特定的γ值回到1,上述手段(43)系算出对应于伽玛校正后的第1位置之上述亮度成份与对应于伽玛校正后的第2位置之上述亮度成份的比。如申请专利范围第1项之相对曝光量测定装置(30),其中,更具备:显示上述影像信号的手段(44)。如申请专利范围第1项之相对曝光量测定装置(30),其中,更具备:指定上述第1位置及上述第2位置的手段(45)。如申请专利范围第1项之相对曝光量测定装置(30),其中,更具备:记忆伽玛校正变换式的手段(42),上述手段(43)系根据上述伽玛校正变换式来使上述特定的γ值回到1。如申请专利范围第1项之相对曝光量测定装置(30),其中,上述比为相对曝光量或相对光圈值。如申请专利范围第1项之相对曝光量测定装置(30),其中,上述相对曝光量测定装置(30)为波形显示装置。一种相对曝光量测定方法,其特征系包含:准备影像信号输出装置(4)之步骤;输入对应于藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的对象(1)的第1位置之影像信号的亮度成份之步骤;校正对应于上述第1位置之亮度成份的γ值之步骤;输入对应于藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的上述对象(1)的第2位置之影像信号的亮度成份之步骤;校正对应于上述第2位置之亮度成份的γ值之步骤;及算出对应于伽玛校正后的第1位置之上述亮度成份与对应于伽玛校正后的第2位置之上述亮度成份的比之步骤;及显示上述比之步骤。如申请专利范围第7项之相对曝光量测定方法,其中,更包含:在藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的上述对象(1)内,准备具有特定的反射率的物体(31)之步骤,上述第1位置系对应于上述物体(31)。一种相对曝光量测定装置(30),其特征系具备:输入影像信号之手段(41);记忆上述影像信号的亮度成份与F值的关系式之手段(42);及算出对应于上述影像信号的内容中所含的第1位置之亮度成份所对应的F值与对应于上述影像信号的内容中所含的第2位置之亮度成份所对应的F值的比之手段(43)。如申请专利范围第9项之相对曝光量测定装置(30),其中,上述手段(43)系由对应于上述影像信号的内容中所含的较正位置之复数的亮度成份,与复数的F值有所关联之复数的亮度成份来求取上述关系式。如申请专利范围第9项之相对曝光量测定装置(30),其中,更具备:显示上述影像信号之手段(44)。如申请专利范围第9项之相对曝光量测定装置(30),其中,上述比为相对曝光量或相对光圈值。如申请专利范围第9项之相对曝光量测定装置(30),其中,上述相对曝光量测定装置(30)为波形显示装置。一种相对曝光量测定方法,其特征系包含:准备影像信号输出装置(4)之步骤;准备影像信号的亮度成份与F值的关系式之步骤;输入对应于藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的对象(1)的第1位置之影像信号的亮度成份之步骤;求取对应于上述第1位置之亮度成份所对应的F值之步骤;输入对应于藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的上述对象(1)的第2位置之影像信号的亮度成份之步骤;求取对应于上述第2位置之亮度成份所对应的F值之步骤;算出对应于第1位置之亮度成份所对应的上述F值与对应于第2位置之亮度成份所对应的上述F值的比之步骤;及显示上述比之步骤。如申请专利范围第14项之相对曝光量测定方法,其中,更包含:在藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的上述对象(1)内,准备具有特定的反射率的物体(31)之步骤,上述第1位置系对应于上述物体(31)。如申请专利范围第14项之相对曝光量测定方法,其中,准备影像信号的亮度成份与F值的关系式之上述步骤,系包含:上述影像信号输出装置(4)会被设定成复数的F值之步骤;输入对应于藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的对象(1)的较正位置之影像信号的复数的亮度成份之步骤;及由上述复数的F值及上述复数的亮度成份来求取上述关系式之步骤。如申请专利范围第16项之相对曝光量测定方法,其中,更包含:在藉由上述影像信号输出装置(4)所摄影的上述对象(1)内,准备具有特定的反射率的物体(31)之步骤,上述较正位置系对应于上述物体(31)。
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