发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Auswertung des von einem Plasma emittierten Lichtes zur Regelung von plasmagestützten Vakuumprozessen
摘要 Bei der Auswertung des von einem Plasma emittierten Lichtes in verschiedenen schmalbandigen Wellenlängenbereichen aus einem örtlichen Plasmabereich und eine damit gekoppelte schnelle Regelung von plasmagestützten Vakuumprozessen ergeben sich folgende Probleme: – Verwendung eines sehr kostenintensiven akusto-optischen Spektrometers oder – zu geringe Geschwindigkeit bei Verwendung eines normalen Spektrometers oder – keine direkte örtliche Zuordnung sowie unterschiedliche Driften der Photomultiplier bei Verwendung von mehreren Kollimatoren, wobei jedem Kollimator jeweils ein separater optischer Filter und ein separater Photomultiplier zugeordnet ist. Das neue Verfahren und die neue Vorrichtung soll eine kostengünstige und schnelle Auswertung des vom Plasma in verschiedenen schmalbandigen Wellenlängenbereichen aus einem örtlichen Plasmabereich emittierten Lichtes sowie eine damit gekoppelte kostengünstige und schnelle Regelung von plasmagestützten Vakuumprozessen ermöglichen. Erfindungsgemäß wird die Aufgabe gelöst, indem das vom Plasma emittierte Licht mittels piezoelektrischen Faserschalter sequentiell auf verschiedene optische Filter und von diesen mittels eines weiteren piezoelektrischen Faserschalters synchronisiert und ebenfalls sequentiell auf denselben Photomultiplier geleitet wird. Die Auswertung der daraus entstehenden Signale nimmt ein Mikrocontroller vor, welcher anhand der Auswertergebnisse über integrierte PID-Regler die Regelung des Prozesses über die Steuerung von geeigneten Stellgliedern vornimmt. Die Auswertung des vom Plasma emittierten Lichtes und die Regelung von plasmagestützten Vakuumprozessen.
申请公布号 DE102009059097(B4) 申请公布日期 2011.09.01
申请号 DE200910059097 申请日期 2009.12.18
申请人 DTF TECHNOLOGY GMBH 发明人 LIEPACK, HARALD, DR.;GEBEL, THORALF, DR.;KRUG, MARIO;GALONSKA, BERND
分类号 C23C14/54;C23C16/52 主分类号 C23C14/54
代理机构 代理人
主权项
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