| 发明名称 | 光检测单元、光检测装置以及X射线断层摄像装置 | ||
| 摘要 | 光检测单元、光检测装置以及X射线断层摄像装置，本发明提供了一种安装作业性良好的光检测单元。在光检测单元(1)中，在由陶瓷的烧结体形成的支撑基板(20)的背面上，固定有2个安装用结构体(30)。在光检测单元(1)的制造工序中，各安装用结构体(30)在烧结生片的层叠体形成陶瓷的烧结体之后，接合在支撑基板(20)的背面上。由此，能够将安装用结构体(30)精度良好地配置在支撑基板(20)的背面上，提高光检测单元(1)的安装作业性。 | ||
| 申请公布号 | CN102157528A | 申请公布日期 | 2011.08.17 |
| 申请号 | CN201110034961.0 | 申请日期 | 2006.04.21 |
| 申请人 | 浜松光子学株式会社 | 发明人 | 琴冈义久 |
| 分类号 | H01L27/14(2006.01)I;H01L31/02(2006.01)I;A61B6/03(2006.01)I;G01T1/20(2006.01)I | 主分类号 | H01L27/14(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人 | 龙淳 |
| 主权项 | 一种光检测单元，其特征在于，包括：半导体基板，形成有由多个光电二极管排列而成的光电二极管阵列；支撑基板，由陶瓷的烧结体形成，在表面上配置有所述半导体基板；安装用结构体，被固定在所述支撑基板的背面上，所述安装用结构体是形成有螺栓孔或者嵌合孔的部件，且一个端面与所述支撑基板的背面相接合。 | ||
| 地址 | 日本静冈县 | ||