发明名称 用于光阴极组件针孔疵病检测的方法及其实现装置
摘要 本发明公开了一种用于光阴极组件针孔疵病检测的方法及其实现装置,检测方法包括以下步骤:步骤1:进行测量的准备工作,并对设备进行初始化;步骤2:对是否扫描新的光阴极组件进行判断,如果是,则执行步骤3,如果不扫描,而仅仅查看已有的图像,则执行步骤5;步骤3:设置二维平移台的移动轨迹,设置平移台扫描范围;步骤4:利用CCD摄像机和图像采集卡对图像进行采集,并将原图像载入计算机;步骤5:将图像转换成理想的二值图像;步骤6:对二值图像进行区域扫描,找出瑕疵区域,标识检测结果;步骤7:实现海量图片的无缝拼接;步骤8:整合疵病的信息;步骤9:扫描完毕。本发明的方法检测结果准确,并且节约成本。
申请公布号 CN101782528B 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN200910028131.X 申请日期 2009.01.16
申请人 南京理工大学 发明人 常本康;富容国;钱芸生;邱亚峰;张俊举;刘磊;高频;魏殿修;徐登高;詹启海;杨敏
分类号 G01N21/88(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 南京理工大学专利中心 32203 代理人 朱显国
主权项 一种用于光阴极组件针孔疵病检测的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:进行测量的准备工作,选择透射光源,调节光源的亮度到清楚的辨认图像,并对设备进行初始化;步骤2:对是否扫描新的光阴极组件进行判断,如果是,则执行步骤3,如果不扫描,而仅仅查看已有的图像,则执行步骤5;步骤3:设置二维平移台的移动轨迹,设置二维平移台扫描范围;步骤4:利用CCD摄像机和图像采集卡对图像进行采集,并将采集到的图像载入计算机;步骤5:将采集到的图像转换成理想的二值图像,方便处理;步骤6:对二值图像进行区域扫描,找出瑕疵区域,同时统计瑕疵区域的大小,标识检测结果;步骤7:实现海量图片的无缝拼接;步骤8:去掉相邻图像多计的瑕疵个数,整合瑕疵的信息,具体的方法如下:用x1表示两瑕疵中心点之间的距离,x2表示两瑕疵等效半径的和,当x1<x2时,两个瑕疵合并为一个瑕疵,即把半径较小的瑕疵的信息写为0,瑕疵的个数减1;步骤9:扫描完毕,列表显示瑕疵信息,给出统计结果,打印信息。
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