发明名称 X射线光谱仪试样架
摘要 一种X射线光谱仪试样架,包括试样架本体(1)、压片(4)、压盖(6),试样架本体(1)通过弹簧(3)与压片(4)连接,压盖(6)与样架本体(1)的卡套部(2)卡紧后将试样片卡在压片(4)与压盖(6)之间,其特征在于:压片(4)上有孔(5),压盖(6)上有孔(7),所述压片(4)为透明的硬质材料。可以方便的读取试样片上信息,减少了劳动强度,方便快捷,并有利于减少测试中来自于压片的干扰影响。
申请公布号 CN201926631U 申请公布日期 2011.08.10
申请号 CN201120004186.X 申请日期 2011.01.09
申请人 辽宁出入境检验检疫局检疫检验技术中心 发明人 曾泽;胡晓静;牟明仁;蒋晓光;薛大方;赵彤彤;谢琰;殷国建
分类号 G01N23/00(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I 主分类号 G01N23/00(2006.01)I
代理机构 大连星海专利事务所 21208 代理人 衣维成
主权项 一种X射线光谱仪试样架,包括试样架本体(1)、压片(4)、压盖(6), 试样架本体(1)通过弹簧(3)与压片(4)连接,压盖(6)与样架本体(1)的卡套部(2)卡紧后将试样片卡在压片(4)与压盖(6)之间,其特征在于:压片(4)上有孔(5), 压盖(6)上有孔(7),所述压片(4)为透明的硬质材料。
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