一种电子元器件自动测试装置

摘要

本发明公开了一种自动化程度高、效率高、结构紧凑的电子元器件自动测试装置。本发明包括上料位(15)、下料位(21)、测试位、坏品处理位(17)、待测品盘(11)、转盘体(31)，所述上料位(15)将待测品盘(11)中的待测品转移到转盘体(31)的测试夹具(13)上，测试转盘作圆周运动，当测试夹具(13)上的产品转到测试位的对应位置，接受测试位的测试，再转到坏品处理位(17)的对应位置，如测试出该产品为坏品，则由坏品处理位(17)将其转移到坏品回收盒(22)，经过测试的合格产品转至下料位(21)的对应位置，由下料位(21)将其提取。本发明可广泛应用于电子元器件测试领域。

主权项

一种电子元器件自动测试装置，包括底座(1)、立柱I(2)、立柱II(3)、立柱III(4)、立柱Ⅳ(5)、下料固定板(6)、固定横杆I(7)、固定横杆II(8)，所述立柱I(2)、所述立柱II(3)、所述立柱III(4)、所述立柱Ⅳ(5)、所述下料固定板(6)分别固定安装于所述底座(1)上，所述固定横杆II(8)横架于所述立柱I(2)和所述立柱II(3)之间并固定，所述固定横杆I(7)横架于所述立柱Ⅳ(5)与所述固定横杆II(8)之间并固定，其特征在于：所述底座(1)还设置有XY移动台、自动测试转盘，所述XY移动台包括下滑轨(9)、上滑轨(10)，所述下滑轨(9)固定安装于所述底座(1)上，所述上滑轨(10)与所述下滑轨(9)相配合，所述上滑轨(10)设置有待测品盘(11)，所述待测品盘(11)沿所述上滑轨(10)作滑移动作，所述自动测试转盘圆周设置有至少两个测试夹具(13)，所述固定横杆I(7)设置有上料位导轨(14)，所述上料位导轨(14)配合有上料位(15)，所述固定横杆I(7)还设置有上测试位I(23a)、上测试位II(24a)，所述底座(1)还设置有下测试位I(23b)、下测试位II(24b)，所述上测试位I(23a)和上测试位II(24a)在所述测试夹具(13)的上方对应位置，所述下测试位I(23b)和下测试位II(24b)在所述测试夹具(13)的下方对应位置，所述上测试位I(23a)和所述下测试位I(23b)视为第一组测试位，所述上测试位II(24a)和所述下测试位II(24b)视为第二组测试位，根据需要可以在其他测试夹具的对应位置设置多组测试位，所述固定立柱III(4)的顶部安装有坏品处理位导轨I(16)，所述坏品处理位导轨I(16)配合有坏品处理位I(17)，所述固定横杆I(7)还设置有坏品处理位导轨II(18)，所述坏品处理位导轨II(18)配合有坏品处理位II(19)，所述下料固定板(6)的上端固定安装有下料位导轨(20)，所述下料位导轨(20)配合有下料位(21)，所述下料位(21)沿所述下料位导轨(20)作来回滑移传输工作。