发明名称 | 电容器阵列的校正方法和电容器阵列的校正装置 | ||
摘要 | 本发明提供一种电容器阵列的校正方法和校正装置,其中校正方法包括将校正电容器元件的第一节点耦接多个电容器元件的第一节点;将第一参考电压耦接特定电容器元件的第二节点,将第一测试电压耦接校正电容器元件的第二节点,使得多个电容器元件的第一节点的电平落入与默认电压有关的范围;将第二参考电压耦接特定电容器元件的第二节点,并将第二测试电压耦接校正电容器元件的第二节点,使得多个电容器元件的第一节点的电平落入与默认电压有关的另一范围,依据第一测试电压和第二测试电压确定特定电容器元件的电容指示值。本发明的电容器阵列的校正方法和校正装置使用相对简单的计算完成校正过程,具有更少的多余电路,从而降低成本和功耗。 | ||
申请公布号 | CN102082572A | 申请公布日期 | 2011.06.01 |
申请号 | CN201010545544.8 | 申请日期 | 2010.11.16 |
申请人 | 联发科技股份有限公司 | 发明人 | 廖介伟;周家骅;徐哲祥;张文华 |
分类号 | H03M1/10(2006.01)I | 主分类号 | H03M1/10(2006.01)I |
代理机构 | 北京万慧达知识产权代理有限公司 11111 | 代理人 | 葛强;张一军 |
主权项 | 一种电容器阵列的校正方法,用于包含多个电容器元件的电容器阵列,其中该多个电容器元件的每一者具有第一节点和第二节点,且该多个电容器元件的每一者的该第一节点相互耦接,该电容器阵列的校正方法包括:将具有已知电容值的校正电容器元件的第一节点耦接至该多个电容器元件的每一者的该第一节点;将第一参考电压耦接至待测试的特定电容器元件的第二节点,并将第一测试电压耦接至该校正电容器元件的第二节点,使得该多个电容器元件的每一者的该第一节点的电平落入与默认电压有关的一范围,其中该特定电容器元件选自该多个电容器元件;将与该第一参考电压不同的第二参考电压耦接至待测试的该特定电容器元件的该第二节点,并将第二测试电压耦接至该校正电容器元件的该第二节点,使得该多个电容器元件的每一者的该第一节点的该电平落入与该默认电压有关的另一范围,依据该第一测试电压和该第二测试电压确定相应于待测试的该特定电容器元件的电容指示值。 | ||
地址 | 中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号 |