发明名称 |
一种ATCA体系中的配置和测试方法及系统 |
摘要 |
本发明公开了一种高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统,包括:JTAG桥片,位于被测试单板上,用于在测试控制单元控制下选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片和/或JTAG驱动;测试控制单元,用于获得用于进行测试或配置的测试向量,并控制JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片和/或JTAG驱动,从而连通到指定的JTAG器件和/或JTAG链,向所述指定的JTAG器件和/或JTAG链发送所述测试向量以进行测试或配置。从而提升ATCA中测试和配置速度并可进行管理板测试和配置。 |
申请公布号 |
CN101179748B |
申请公布日期 |
2011.05.25 |
申请号 |
CN200710178887.3 |
申请日期 |
2007.12.06 |
申请人 |
中兴通讯股份有限公司 |
发明人 |
张凯;樊荣虎;周赞鑫;查卫民 |
分类号 |
H04Q3/00(2006.01)I;H04M3/24(2006.01)I |
主分类号 |
H04Q3/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种高性能通讯计算架构体系中的配置和测试系统,其特征在于,包括:JTAG桥片,位于被测试单板上,用于在测试控制单元的控制下选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片、JTAG驱动中的任意一个或者多个;测试控制单元,用于获得用于进行测试或配置的测试向量,并确定所述被测试单板位置,发送包含位于所述被测试单板上的JTAG桥片地址的测试包,判断所述被测试单板是否在位,确定所述被测试单板在位后控制JTAG桥片选通所述JTAG桥片连接的JTAG器件、JTAG链、JTAG桥片、JTAG驱动中的任意一个或者多个,从而连通到指定的JTAG器件和/或JTAG链,向所述指定的JTAG器件和/或JTAG链发送所述测试向量以进行测试或配置。 |
地址 |
518057 广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦 |