发明名称 |
显示面板测试系统及其微探针装置 |
摘要 |
本发明揭露一种显示面板测试系统,包含测试装置及微探针装置,用以测试待测显示面板。测试装置用以产生测试信号。微探针装置包含基板及微探针。基板耦接测试装置。微探针被设置于基板上,并且微探针耦接待测显示面板。微探针装置的基板上亦设置有对称性设计的测试集成电路。当测试信号输入微探针装置的基板并沿着特定路径传送至测试集成电路时,测试集成电路对测试信号进行信号反转处理,并将经信号反转处理后的测试信号传送回微探针装置的基板后,测试信号经由微探针输出至待测显示面板。 |
申请公布号 |
CN102062790A |
申请公布日期 |
2011.05.18 |
申请号 |
CN201010532187.1 |
申请日期 |
2010.11.02 |
申请人 |
友达光电股份有限公司 |
发明人 |
邓国鑫;邵明良;吴坤育;陈执群;陈文钧;蔡孟哲;陈建利;苏裕新 |
分类号 |
G01R1/067(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/067(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
钱大勇 |
主权项 |
一种微探针装置,是作为测试装置与待测显示面板之间的传输媒介,包含:基板,耦接该测试装置,该基板上设置有对称性设计的测试集成电路;以及微探针,被设置于该基板上,该微探针耦接该待测显示面板,当该测试信号输入该基板并沿着特定路径传送至该测试集成电路时,该测试集成电路对该测试信号进行信号反转处理,并将经信号反转处理后的该测试信号传送回该基板后,该测试信号经由该微探针输出至该待测显示面板。 |
地址 |
中国台湾新竹市 |