发明名称 Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Unterbrechung einer Testkette gesicherten Testmodus umfasst
摘要
申请公布号 DE602007013477(D1) 申请公布日期 2011.05.12
申请号 DE200760013477T 申请日期 2007.01.31
申请人 STMICROELECTRONICS S.A. 发明人 BANCEL, FREDERIC;HELY, DAVID
分类号 G01R31/317;G01R31/3185 主分类号 G01R31/317
代理机构 代理人
主权项
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