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发明名称
Elektronischer Schaltkreis, der einen mittels Unterbrechung einer Testkette gesicherten Testmodus umfasst
摘要
申请公布号
DE602007013477(D1)
申请公布日期
2011.05.12
申请号
DE200760013477T
申请日期
2007.01.31
申请人
STMICROELECTRONICS S.A.
发明人
BANCEL, FREDERIC;HELY, DAVID
分类号
G01R31/317;G01R31/3185
主分类号
G01R31/317
代理机构
代理人
主权项
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