发明名称 一种利用校正公式消除荧光内滤效应的测试方法
摘要 本发明公开了一种利用校正公式消除荧光内滤效应的测试方法,先将作为参比的吸收池和用于测定荧光样品吸收值的荧光池均放入超纯水扫描基线,再对待测体系样品荧光测试得荧光值Fobs,将盛有待测样品的荧光池置于紫外可见分光光度计中扫描并将激发波长和发射波长处对应的吸收值加和得到吸收值A,代入公式Fcor=Fobs10A/2,得到Fcor为校正好的荧光值。本发明仅需配制一待测体系溶液,无需配制和检测各组分溶液,具有节省时间、节约药品、操作简捷、经济适用、准确可行的特点,特别是在样品较多的情况下,能极大的提高工作效率,有较大的推广应用价值。
申请公布号 CN102053080A 申请公布日期 2011.05.11
申请号 CN201010576071.8 申请日期 2010.12.06
申请人 山东大学 发明人 刘汝涛;池振兴;赵星辰
分类号 G01N21/64(2006.01)I;G01N21/31(2006.01)I;G01N21/33(2006.01)I 主分类号 G01N21/64(2006.01)I
代理机构 济南圣达知识产权代理有限公司 37221 代理人 王立晓
主权项 一种利用校正公式消除荧光内滤效应的测试方法,其特征是,包括如下步骤:(1)将作为参比的吸收池和用于测定荧光样品吸收值的荧光池均放入超纯水,放置入紫外可见分光光度计,在荧光池的一侧标记,使有标记的一侧朝向光源一侧,设置紫外可见分光光度计的扫描波长范围,使之包括待测样品荧光测试时的激发波长和发射波长的范围,进行基线校正以消除吸收池和荧光池的误差;(2)配制一份待测体系的待测样品,将配制好的待测样品放于荧光池中,有标记的一侧朝向光源一侧,放置进入荧光分光光度计,按照预先考察好的待测样品的荧光测试条件设置激发波长和发射波长,然后进行荧光测试,得到待测样品的荧光值Fobs;(3)荧光测试完毕后,将盛有待测样品的荧光池置于紫外可见分光光度计中,按照步骤(1)设置的测试条件,以水为参比,测定待测样品的吸收光谱,将激发波长和发射波长处对应的吸收值加和得A;(4)将得到的荧光值Fobs数据和吸收值A数据代入公式Fcor=Fobs10A/2,得到Fcor为校正好的荧光值。
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