发明名称 Bondverbindung zwischen einem Bonddraht und einem Leistungshalbleiterchip
摘要 Die Erfindung betrifft eine Bondverbindung zwischen einem Bonddraht (9) und einem Leistungshalbleiterchip (1). Der Leistungshalbleiterchip (10) weist einen Halbleiterkörper (1) auf, in dem ein aktiver Zellbereich (12) mit einer Vielzahl von Zellen (15) angeordnet ist, die in einer lateralen Richtung (r) aufeinanderfolgend angeordnet und elektrisch parallel geschaltet sind. Der Halbleiterkörper (1) weist einen Oberflächenabschnitt (11') auf, der in einer zur lateralen Richtung (r) senkrechten vertikalen Richtung (v) oberhalb des aktiven Zellbereichs (12) angeordnet ist. Auf den Oberflächenabschnitt (15) ist eine Metallisierungsschicht (20) aufgebracht, auf die ein Bonddraht (9) gebondet ist. Der Bonddraht (9) besteht aus einer Legierung, die wenigstens 99 Gew.-% Aluminium (91) enthält, sowie wenigstens einen weiteren Legierungsbestandteil (92). Das Aluminium (91) weist eine Kornstruktur mit einer mittleren Korngröße (<D91>) auf, die kleiner ist als 2 µm.
申请公布号 DE102009045184(A1) 申请公布日期 2011.04.28
申请号 DE20091045184 申请日期 2009.09.30
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AG 发明人 SIEPE, DIRK;GUTT, THOMAS;ROTH, ROMAN
分类号 H01L23/49;H01L21/60;H01R4/02 主分类号 H01L23/49
代理机构 代理人
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