| 发明名称 | 增加芯片老化扫描效率的方法 | ||
| 摘要 | 本发明为“增加芯片老化扫描效率的方法”。利用一图形发生器，对一存储器芯片内的每一存储单元写入一特定逻辑电位，读取该存储单元储存的特定逻辑电位，比较该存储单元储存的特定逻辑电位和该特定逻辑电位，判断该存储单元是否合格，并储存有关于该存储单元的判断结果于该存储器芯片的数据锁存器，及根据该数据锁存器内储存的该存储器芯片内的所有存储单元的判断结果，判断该存储器芯片是否合格。 | ||
| 申请公布号 | CN102034554A | 申请公布日期 | 2011.04.27 |
| 申请号 | CN201010610315.X | 申请日期 | 2010.12.16 |
| 申请人 | 钰创科技股份有限公司 | 发明人 | 刘士晖;杨连圣;陈威儒 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人 | 梁挥;祁建国 |
| 主权项 | 一种增加芯片老化扫描效率的方法，包括：利用一图形发生器，对一存储器芯片内的每一存储单元写入一特定逻辑电位；读取该存储单元储存的特定逻辑电位；比较该存储单元储存的特定逻辑电位和该特定逻辑电位，判断该存储单元是否合格，并储存有关于该存储单元的判断结果于该存储器芯片的数据锁存器；及根据该数据锁存器内储存的该存储器芯片内的所有存储单元的判断结果，判断该存储器芯片是否合格。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹市 | ||