| 主权项 |
一种用于测试载板之类比测试模组装置改良，包括：一测试载板，其上系可供安装至少一待测晶片；以及一类比讯号测试模组，其系设于该测试载板上，并利用内建之一高速连接器电性连接至该待测晶片，以进行类比讯号测试。如申请专利范围第1项所述之类比测试模组装置改良，更包括一自动测试机台接头，系设于该测试载板上，且电性连接该待测晶片，使该待测晶片可利用该自动测试机台接头连接至一自动测试机台，以进行断路或短路测试。如申请专利范围第2项所述之类比测试模组装置改良，更包括一切换开关组，其一端系连接至该待测晶片，另一端则连接至该类比讯号测试模组及该自动测试机台接头，用以切换该待测晶片选择性电性连接至该类比讯号测试模组或自动测试机台接头。如申请专利范围第2项所述之类比测试模组装置改良，其中该自动测试机台系为高阶自动测试机台或是低阶自动测试机台。如申请专利范围第1项所述之类比测试模组装置改良，其中该类比讯号测试模组更包括：至少一类比数位转换单元，连接该高速连接器，以接收一类比测试讯号，并将其转换成一数位测试讯号；一数位讯号处理单元，其系连接该类比数位转换单元，并接收分析该数位测试讯号，以侦测其讯号品质；以及一可调变频率产生器，其系连接该数位讯号处理单元，以提供其所需之时脉讯号。如申请专利范围第1项所述之类比测试模组装置改良，其中该类比讯号测试模组系活动插拔式插设于该测试载板上。 |
