发明名称 |
一种铟砷量子点有源区结构及发光器件 |
摘要 |
本发明涉及铟砷量子点有源区结构,它包含n个铟砷量子点层(1),n≥1,n为自然数;每一个铟砷量子点层(1)中都自下而上依次外延生长In组分线性增加的InGaAs层、InAs量子点层、In组分线性减小的InGaAs层、盖层。本发明还涉及铟砷量子点发光器件,它是在镓砷衬底上由下至上依次外延生长镓砷缓冲层、下包层、下限制波导层、铟砷量子点有源区结构、上限制波导层、上包层、欧姆接触层。本发明可以减小铟砷量子点所承受的压应力、抑制量子点中的铟析出、减小量子点有源区结构的积累应变、减小缺陷和位错,因此,铟砷量子点及相应的发光器件具有较大的发光效率和发光强度。 |
申请公布号 |
CN101887936A |
申请公布日期 |
2010.11.17 |
申请号 |
CN201010186606.0 |
申请日期 |
2010.05.25 |
申请人 |
华中科技大学 |
发明人 |
黄黎蓉;费淑萍;田芃 |
分类号 |
H01L33/30(2010.01)I;H01L33/06(2010.01)I;H01S5/343(2006.01)I;G02F1/39(2006.01)I |
主分类号 |
H01L33/30(2010.01)I |
代理机构 |
湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 |
代理人 |
王守仁 |
主权项 |
一种铟砷量子点有源区结构,其特征是它包含n个铟砷量子点层(1),n≥1,n为自然数;每一个铟砷量子点层(1)中都自下而上依次外延生长In组分线性增加的InGaAs层、InAs量子点层、In组分线性减小的InGaAs层、盖层。 |
地址 |
430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号华中科技大学武汉光电国家实验室 |