| 发明名称 | 验证集成电路效能模型的方法 | ||
| 摘要 | 一种验证集成电路效能模型的方法，包含：取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；根据统计数目与对应的等待时间值产生等待时间的函数；将随机数代入等待时间的函数以取得等待时间值；根据所取得的等待时间值验证集成电路效能模型的逻辑。 | ||
| 申请公布号 | CN101859330A | 申请公布日期 | 2010.10.13 |
| 申请号 | CN200910131892.8 | 申请日期 | 2009.04.09 |
| 申请人 | 辉达公司 | 发明人 | 鲁埃尔·纳什;白钰;李晓伟 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人 | 董巍;顾珊 |
| 主权项 | 一种验证集成电路效能模型的方法，包含：(a)取得存取存储器的请求的统计数目与其对应等待时间值；(b)根据该统计数目与该对应等待时间值产生至少一等待时间的函数；(c)将一随机数代入该等待时间的函数以取得一等待时间值；以及(d)根据所取得的等待时间值验证该集成电路效能模型的逻辑。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||