电路板测试方法

摘要

本发明涉及一种电路板测试方法，测量电路板中各导电路径的标准电阻值；确定多个待测量导电路径；测量多个该种电路板中每个待测量导电路径的电阻值，并记录阻值变化幅度超出预定范围的导电路径；进行切片分析以确认导电路径中是否存在不良；分析不良导电路径的电阻值变化与标准电阻值，得出不良引起的导电路径电阻值变化范围相对于其标准电阻值的变化规律；根据待测量电路板中每个导电路径电阻值变化是否符合所述变化规律以确认该待测电路板中各导电路径是否存在不良。所述方法通过简单的电阻测量即可得知电路板的导电路径是否存在不良。

主权项

一种电路板测试方法，包括以下步骤：测量该种电路板中各个导电路径的标准电阻值；在该种电路板中确定多个待测量导电路径；测量多个该种电路板中每个待测量导电路径的电阻值，并记录阻值变化幅度超出预定范围的导电路径及其电阻值变化；对阻值变化幅度超出预定范围的导电路径进行切片分析以确认导电路径中是否存在不良；分析不良导电路径的电阻值变化与标准电阻值，得出不良引起的导电路径电阻值变化范围相对于其标准电阻值的变化规律；测量待测量电路板中各导电路径的电阻值，根据每个导电路径电阻值变化是否符合所述变化规律以确认该待测电路板中各导电路径是否存在不良。