发明名称 SHORT INSPECTING APPARATUS AND SHORT INSPECTING METHOD FOR CIRCUIT SUBSTRATE PATTERN
摘要
申请公布号 KR100982830(B1) 申请公布日期 2010.09.16
申请号 KR20030043249 申请日期 2003.06.30
申请人 发明人
分类号 H05K3/00 主分类号 H05K3/00
代理机构 代理人
主权项
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