发明名称 一种籽晶检测方法及其装置
摘要 本发明提供了一种籽晶检测方法及其装置,涉及水晶材料加工技术领域,籽晶检测方法,包括设备定角定位、调整籽晶规中、X射线检测三个步骤,相对应的检测装置包括X射线管箱体(1)、测试台(2)、探头(3)、指示仪表及机台内的高压发生器、控制器、稳压器、稳压电源,测量光路依次经过X射线管、水晶、探头(3),本装置还包括有电子显微镜(4)及与其相连接的显示器(5),测试台(2)水平放置,本发明采用定角定位检测,被测水晶水平放置,无需测算水晶几何表面与籽晶面的角度,并可通过电子显微镜(4)直接得到水晶籽晶与表面的距离值,为下一步打磨加工做好准备,相比与现有的单晶检测方法及其装置,操作更加简便快捷,测量精度高,节省人力物力,提高了晶体产品的质量及生产效率。
申请公布号 CN101806758A 申请公布日期 2010.08.18
申请号 CN201010150221.9 申请日期 2010.04.16
申请人 谢加地 发明人 谢加地;孟范洪
分类号 G01N23/20(2006.01)I;G01N23/207(2006.01)I 主分类号 G01N23/20(2006.01)I
代理机构 泰安市泰昌专利事务所 37207 代理人 姚德昌
主权项 一种籽晶检测方法,其特征在于:包括设备定角定位、调整籽晶规中、X射线检测三个步骤:设备定角定位:根据布拉格公式nλ=2dsinθ确定X射线管、探头的角度,将标准水晶块放置在测试台上方夹具内,打开设备开关,调整测试台高度,当探头接收X射线衍射光线后,微安表显示,固定测试台高度,将电子显微镜镜头对准标准水晶块侧面,调整电子显微镜高度,使标准水晶块籽晶面与镜头中心水平刻度重合,X射线衍射位置确定;调整籽晶规中:将被测晶体放置在夹具上,通过电子显微镜显示屏观察,微调夹具底部校位螺栓,使被测晶体的籽晶面与镜头中心水平刻度线吻合;X射线检测:打开开关,X射线管产生X射线,微调被测水晶底部的校位螺栓,直到微安表显示,则籽晶测试成功,旋转夹具侧面的夹紧螺栓,固定晶体与夹具。
地址 271000 山东省泰安市泰山大街木材三区