发明名称 Vorrichtung und Verfahren zum Vermessen einer Oberfläche
摘要 Eine Vorrichtung zum Vermessen einer Oberfläche (2) umfasst eine Lichtquelle (3), eine Lichtlenkeinrichtung (4-6), eine Detektoranordnung (10) und eine Auswerteschaltung (15). Die Lichtquelle (3) erzeugt eine Folge von Lichtpulsen mit einer Repetitionsrate. Die Lichtlenkeinrichtung (4-6) ist kontrollierbar, um die Folge von Lichtpulsen auf einen Oberflächenbereich (25) der Oberfläche (2) zu lenken. Der Oberflächenbereich kann aus mehreren Oberflächenbereichen (25, 27) ausgewählt werden. Die Detektoranordnung ist eingerichtet, um wenigstens ein von dem Oberflächenbereich (25) gestreutes und/oder reflektiertes Lichtsignal (21-24) zu empfangen. Die Auswerteschaltung (15) ist mit der Detektoranordnung (10) gekoppelt und eingerichtet, um zum Bestimmen einer Position des Oberflächenbereichs (25) eine Phasendifferenz zwischen einem aus der Folge von Lichtpulsen abgeleiteten Referenzsignal (19) und einer Signalkomponente des wenigstens einen Lichtsignals (21-24) zu ermitteln. Dabei wird die Phasendifferenz für die Signalkomponente ermittelt, die eine Frequenz aufweist, die einem Vielfachen der Repetitionsrate entspricht.
申请公布号 DE102008045387(A1) 申请公布日期 2010.03.04
申请号 DE20081045387 申请日期 2008.09.02
申请人 CARL ZEISS AG 发明人 ALVAREZ DIEZ, CRISTINA;HOELLER, FRANK;SPRUCK, BERND;TREMONT, MARC
分类号 G01S17/89;G01B11/24;G01S7/483;G01S17/10 主分类号 G01S17/89
代理机构 代理人
主权项
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