发明名称 |
电子装置及其周期性测试方法 |
摘要 |
一种电子装置周期性测试方法,用于对电子装置的各个功能进行周期性测试,该方法包括步骤:设置电子装置的测试总时间及各个测试状态对应的切换时刻,所述切换时刻是该电子装置不同测试状态进行切换的时刻;启动该电子装置内建的计时器,并使该电子装置进入初始的测试状态;根据计时器的计时时间判断是否到达设置的各个切换时刻;当设置的各个切换时刻到达时,将该电子装置切换到各个相应的测试状态;及根据计时器的计时时间判断是否到达设置的测试总时间,若设置的测试总时间到达,结束测试。本发明还提供一种可进行周期性测试的电子装置。本发明不需要增加额外的测试设备,即可实现电子装置各个功能的周期性测试。 |
申请公布号 |
CN101614620A |
申请公布日期 |
2009.12.30 |
申请号 |
CN200810302404.0 |
申请日期 |
2008.06.27 |
申请人 |
深圳富泰宏精密工业有限公司;奇美通讯股份有限公司 |
发明人 |
陈纪宪 |
分类号 |
G01M19/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01M19/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
1.一种可对其各个功能进行周期性测试的电子装置,其特征在于,该电子装置包括:设置模块,用于设置该电子装置的测试总时间及各个测试状态对应的切换时刻,所述切换时刻是该电子装置不同测试状态进行切换的时刻;初始化模块,用于启动该电子装置内建的计时器,并使该电子装置进入初始的测试状态;第一判断模块,用于根据计时器的计时时间判断是否到达设置的各个切换时刻;状态切换模块,用于当设置的各个切换时刻到达时,将该电子装置切换到各个相应的测试状态;及第二判断模块;用于根据计时器的计时时间判断是否到达设置的测试总时间。 |
地址 |
518109广东省深圳市宝安区龙华镇富士康科技工业园F3区A栋 |