发明名称 分划间隙定量测量调校方法及其辅助用具
摘要 本发明涉及一种分划间隙定量测量调校方法及其辅助用具。它是以分划板固定圈外端面为基准面,先用定量测量辅具测出光电成像器的光纤面板外端面与基准面之间的间隙值H,再用定量调校辅具,测出分划板外端面与分划板固定圈外端面之间的距离h,然后计算出所测量的光纤面板外端面与分划板外端面之间的实时间隙值Δ′,再将Δ′值与设定的误差允许值Δ进行比较,得出间隙调整值,然后通过调整h,直至将实时间隙值Δ′调校至设定间隙允许值Δ的范围内。使用该方法及辅助用具,能够精确地测量和调校分划板与光纤面板之间的安装间隙,并能有效地保证其安装精度,从而提高产品的使用性能。具有测量便捷、调校稳定可靠等优点。
申请公布号 CN100570277C 申请公布日期 2009.12.16
申请号 CN200710193196.0 申请日期 2007.12.19
申请人 河南中光学集团有限公司 发明人 陈世良;周琛芳;郭华芝;程雪梅
分类号 G01B21/16(2006.01)I 主分类号 G01B21/16(2006.01)I
代理机构 郑州联科专利事务所(普通合伙) 代理人 张晓萍
主权项 1、一种分划间隙定量测量调校辅助用具,其特征在于:它包括一个用于测量光电成像器的光纤面板外端面与分划板固定圈外端面之间间隙值H的定量测量辅具和一个用于测量分划板外端面与分划板固定圈外端面之间距离值h的定量调校辅具,定量测量辅具是由测量定位块和千分表组成,测量的时侯,测量定位块安装在光电成像器的分划端,测量定位块的一端装有千分表,表测头穿过测量定位块上设置的检测通孔,与光电成像器的光纤面板外端面相接触;定量调校辅具是由间隙调校组件和千分表组成,间隙调校组件具有一个带内腔的固定座,其一端通过紧固件装有千分表,另一端通过紧固件连接有用于装卡待测分划板部件的定位环,定位环通过辅助压圈与待测分划板部件中的分划板固定圈相配合。
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