发明名称 光阻保护膜材料及图型之形成方法
摘要 [课题]提供即使于光阻膜上形成保护膜时,亦可更加确实取得矩形之良好光阻图型的光阻保护膜材料,以及使用此类材料形成图型之方法。[解决手段]至少含有于聚合终端具有胺基或磺醯胺基之下述一般式(1)所示之高分子化合物为其特征的光阻保护膜材料。以及,至少含有,于基板上形成光阻膜之步骤,和于该光阻膜上,使用前述光阻保护膜材料形成光阻保护膜之步骤、和曝光步骤、和使用显像液予以显像之步骤为其特征之图型的形成方法。【化52】
申请公布号 TW200813638 申请公布日期 2008.03.16
申请号 TW096123092 申请日期 2007.06.26
申请人 信越化学工业股份有限公司 发明人 原田裕次;山润
分类号 G03F7/11(2006.01);G03F7/027(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F7/11(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本
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