晶片型元件高速外观检测装置

摘要

一种晶片型元件高速外观检测装置，系设有旋转盘与进料机，进料机顶部设有一震动盘，震动盘周围的表面以螺旋的形态设有两送料沟，接续两送料沟的外端，于震动盘的周围结合两并列且延伸方向与震动盘周边相切的轨道，两轨道的出口系位于旋转盘顶面的周围，又由两轨道的出口沿旋转盘的周围以环绕的形态依序设有导引、检查与出料装置；藉此，以复数轨道将晶片以成排的方式朝旋转盘输送，令数量加倍的元件接受检查装置检查后再由出料装置输出，达到提升元件检测效率的功效。

主权项

一种晶片型元件高速外观检测装置，系包括：一旋转盘；一进料机，系于该旋转盘旁设有一进料机体，于该进料机体顶部设有一震动盘，于该震动盘周围的表面以螺旋的形态形成两个以上的送料沟，接续两个以上的送料沟的外端，于该震动盘的周围结合两个以上的轨道，两个以上的轨道系并列且朝外延伸的轨道，其朝外延伸的方向与该震动盘的周边相切，两个以上的轨道延伸的方向亦与该旋转盘的周边相切，对应该旋转盘顶面的周围，于两个以上的轨道的外端分别形成一出口；以及一检测收料组，系由两个以上轨道的出口以环绕的排列方式沿该旋转盘的周围依序设有一导引装置、一检查装置以及一出料装置。