一种量测物体厚度之方法与装置

摘要

本发明为一种量测物体厚度之方法与装置，其步骤包括提供具有一发射端以及至少一接收端之一第一量测装置以及一第二量测装置；将一待测物体设置在上述二量测装置间；该第一量测装置之发射端及该第二量测装置之发射端分别以一特定角度发射一雷射光束，经过该待测物体反射至该接收端；分析上述二量测装置之发射端与该待测物体之间的距离，以及该二量测装置之发射端彼此间之距离，进而推算出该待测物体厚度。