发明名称 |
Verfahren zum Erzeugen eines verformten Kanalgebiets in einem Transistor durch eine tiefe Implantation einer verformungsinduzierenden Sorte unter das Kanalgebiet |
摘要 |
Durch Einbau einer Kohlenstoffsorte unter dem Kanalgebiet eines p-Kanaltransistors vor der Herstellung der Gateelektrodenstruktur kann ein effizienter verformungsinduzierender Mechanismus bereitgestellt werden, wodurch das Leistungsverhalten von p-Kanaltransistoren verbessert wird. Die Lage und die Größe des verformungsinduzierenden Gebiets wird auf der Grundlage einer Implantationsmaske und entsprechender Implantationsparameter festgelegt, wodurch ein hohes Maß an Kompatibilität mit konventionellen Trechniken geschaffen wird, da das verformungsinduzuierende Gebiet während einer frühen Fertigungsphase eingebaut werden kann.
|
申请公布号 |
DE102008006961(A1) |
申请公布日期 |
2009.08.27 |
申请号 |
DE200810006961 |
申请日期 |
2008.01.31 |
申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICES INC.;AMD FAB 36 LLC & CO. KG |
发明人 |
GRIEBENOW, UWE;FROHBERG, KAI;SCHWAN, CHRISTOPH;RUTTLOFF, KERSTIN |
分类号 |
H01L21/8238;H01L21/336;H01L27/092;H01L29/78 |
主分类号 |
H01L21/8238 |
代理机构 |
|
代理人 |
|
主权项 |
|
地址 |
|